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設(shè)計(jì)缺陷對(duì)檢驗(yàn)檢測(cè)的影響

2020-05-19 12:01:49 704

設(shè)計(jì)缺乏可檢測(cè)性造成檢測(cè)困難

設(shè)計(jì)缺陷.jpg

  • 元器件間距過小。

  • 較高元器件附近未留足空間,飛針等設(shè)備無法操作。

  • 測(cè)試點(diǎn)隱藏或遮蔽(如測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部)而無法接觸電測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。


標(biāo)簽: 設(shè)計(jì)缺陷

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